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J-GLOBAL ID:200903014991369658
挿入式試験端子の試験プラグ
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
飯田 堅太郎 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994134662
Publication number (International publication number):1996005659
Application date: Jun. 16, 1994
Publication date: Jan. 12, 1996
Summary:
【要約】【目的】 試験プラグ挿入時の保護回路の誤作動を防止して、保護回路の動作試験を容易に行うことのできる挿入式試験端子の試験プラグを提供すること。【構成】 複数の変流器と複数の過電流継電器と地絡過電流継電器とを備えた保護回路に装備された挿入式試験端子であって、試験プラグ30Aは、中性点Nと地絡過電流継電器55間の接点装置10に挿入される接触子35N,45Nの長さが、変流器51B,W,Rと過電流継電器53B,W,R間の接点装置10に挿入される接触子35B,W,R、45B,W,Rの長さより短く形成されてなる、ことを特徴とする。
Claim (excerpt):
母線の各相に設けられて一端が中性点に接続された複数の変流器と、一端が前記複数の変流器の他端側にそれぞれ接続された複数の過電流継電器と、前記複数の過電流継電器の他端と前記中性点との間に設けられた地絡過電流継電器と、を備えた保護回路において、前記変流器と過電流継電器との間および前記中性点と地絡過電流継電器との間にそれぞれ設けられそれらの間を開離可能な複数組の接点装置を有する試験端子本体と、前記試験端子本体に挿入可能に形成されるとともに絶縁板の上下面に固着されて前記複数組の接点装置にそれぞれ接触可能な複数組の接触子を有する試験プラグと、からなる挿入式試験端子であって、前記試験プラグは、前記中性点と地絡過電流継電器間の接点装置に挿入される接触子の長さが、前記変流器と過電流継電器間の接点装置に挿入される接触子の長さより短く形成されてなる、ことを特徴とする挿入式試験端子の試験プラグ。
IPC (4):
G01R 1/04
, G01R 1/06
, H01R 13/187
, H02H 3/05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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特開昭63-252371
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特開昭63-249417
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