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J-GLOBAL ID：200903015023198536

偏心測定装置

Inventor： 山名 純一
Applicant, Patent owner： 東陶機器株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005004214
Publication number (International publication number)：2006194626
Application date： Jan. 11, 2005
Publication date： Jul. 27, 2006
Summary：

【課題】 中空円筒の偏心測定装置において、確実でかつ高精度な偏心測定装置を実現することを可能とする。 【解決手段】 半導体レーザー投光装置9を被測定物1の出射面付近を照射する位置に設置する。被測定物1に当たった半導体レーザー光10は、光スペックルパターンを発生させる。このスペックルパターンをカメラ5で撮影し、画像処理検査装置6でこの画像を処理すれば、回転の有無を判定できる。カメラ5および画像処理検査装置6は偏心の測定にも利用できる。【選択図】 図3

Claim (excerpt)：

中空円筒の孔と外周の偏心を中空円筒を回転させながら孔画像をカメラで撮影し、該孔画像の位置の変化から偏心量を測定する装置において、前記中空円筒にレーザー光を照射しレーザー光による光スペックルの変化によって回転の有無を検出する手段を設けたことを特徴とする偏心測定装置。

IPC (1)：

G01B 11/27

FI (1)：

G01B11/27 H

F-Term (23)：

2F065AA00 ,  2F065AA17 ,  2F065AA61 ,  2F065BB08 ,  2F065BB22 ,  2F065CC23 ,  2F065FF04 ,  2F065FF51 ,  2F065FF56 ,  2F065GG02 ,  2F065GG06 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL30 ,  2F065MM04 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• フェルール偏芯量測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-219540   Applicant：株式会社モリテックス, 三和システムエンジニアリング株式会社