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J-GLOBAL ID：200903015074682467

ショート故障診断データ生成方法

Inventor： 横山 不二夫 ,  栗田 浩
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 鈴木 誠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993224341
Publication number (International publication number)：1995077562
Application date： Sep. 09, 1993
Publication date： Mar. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】 縮退故障モデルに対する従来の診断データ生成プログラムを用いて、少ないプログラム開発規模でショート故障の診断データを生成する。【構成】 バウンダリスキャン機能が組み込まれたLSIとクラスタ4間のショート故障(例えば、S1-S2間)の診断を可能にするために、ショート故障モデル回路8を挿入する。ショート故障モデル回路8は、クラスタ4の入力信号S1、S2のショート故障を、モデル回路内の信号の縮退故障に置き換える。

Claim (excerpt)：

信号ネット間のショート故障の診断データを生成する方法において、ショート故障を仮定した信号群のソースとシンク間に、ショート故障を縮退故障に変換する手段を設け、該手段を用いて信号群間のショート故障の診断データを生成することを特徴とするショート故障診断データ生成方法。

IPC (3)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/3183 ,  G06F 11/26

FI (2)：

G01R 31/28 F ,  G01R 31/28 Q