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J-GLOBAL ID：200903015092962183
欠陥箇所表示処理方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森田 寛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991204529
Publication number (International publication number)：1993045300
Application date： Aug. 15, 1991
Publication date： Feb. 23, 1993
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、欠陥箇所を示すデータの格納を効率的に行えるとともに、画像上に欠陥位置を表示して、製品の目視による欠陥箇所の確認作業を容易に行えるようにすることを目的としている。【構成】 画像を複数の小区画に分割し、区画毎に欠陥が存在するかどうかの情報を0または1によるビットマップにより表し、モニターの画像上に欠陥位置として、小区画を表示し、各製品の欠陥箇所情報として、ビットマップデータを保存するよう構成する。
Claim (excerpt)：
送信側で、検査結果表示画像を小区画に分割し、各小区画に対して用意された、小区画内の欠陥の有無を示すデータによって構成されるビットマップデータにより、全画面の欠陥位置を示して転送するよう構成すると共に、受信側で、当該ビットマップデータをもとに、画像上の欠陥位置を小区画の位置として表示し、かつ画像の欠陥位置を示すデータとしてビットマップデータをファイル保存するようにしたことを特徴とする欠陥箇所表示処理方法。
IPC (2)：
G01N 21/88
, G06F 15/62 400
