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J-GLOBAL ID：200903015098495730

光線路評価方法およびその装置

Inventor： 清野 稔 ,  小林 勝 ,  桑木 伸夫
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 吉田 精孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991181304
Publication number (International publication number)：1993026771
Application date： Jul. 22, 1991
Publication date： Feb. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】 光線路の線路損失と反射損失を非破壊で同時に測定する。【構成】 光源1から出射された光強度変調され、かつ、その変調周波数が掃引された光を光分波器5により2分岐し、一方の分岐光を被測定光線路4に入射させ、光電力計2で光線路終端におけるその光パワ-を測定するとともに、光分波器5の他方の分岐光のパワ-を光電力計8により測定し、かつ、これら光パワ-の測定と並行して、被測定光線路4からの反射光をO/E変換器6により検出し、周波数解析器7においてその検出電気信号を用いて被測定光線路4における反射光の周波数解析を行うことにより、光線路4を非破壊で線路損失と反射損失を同時に測定する。

Claim (excerpt)：

強度変調の周波数を掃引した光源からの出射光を2分岐し、一方の分岐光を被測定光線路に入射し当該被測定光線路からの出射光パワ-を測定するとともに、他方の分岐光のパワ-を測定し、かつ、前記被測定光線路の反射光を検出して反射光の周波数解析を行い、光線路損失と反射損失を測定することを特徴とする光線路評価方法。