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J-GLOBAL ID：200903015130394135

分析装置

Inventor： 小野 貴通 ,  森 聖年
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994045362
Publication number (International publication number)：1995253431
Application date： Mar. 16, 1994
Publication date： Oct. 03, 1995
Summary：

【要約】【構成】利用者IDを入力すると、そのIDに対応したユーザファイルに登録されている処理要素ユニット(801a〜801n)の利用が許可され、使用されるユニットの識別番号が管理される。出力装置(702)には、利用者ID,ユニット識別番号,分析結果および測定日が出力される。【効果】複数の処理要素ユニットを組み合わせた分析装置を用いた場合に、利用者を特定して分析結果の信頼性の確認をすることができる。

Claim (excerpt)：

多くのユニットの中から選ばれた特定の複数ユニットの組み合わせによって構成される分析装置であって、利用者識別コードの入力に伴ってこの利用者識別コードに対応したユーザファイルに予め登録されている複数ユニットの利用を許可し各利用ユニットのユニット識別番号を管理する制御装置と、分析結果と共に上記利用者識別コード,上記利用ユニットの識別番号および測定日を出力する出力装置を備えた分析装置。

IPC (2)：

G01N 35/00 ,  G01N 30/86

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平1-250758
  
• 特開昭62-050931
  
• 特開平2-055957
  
• 特開平4-050769