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J-GLOBAL ID：200903015205118295

波形測定装置

Inventor： 殿坂 尚紀
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1990409497
Publication number (International publication number)：1993020472
Application date： Dec. 28, 1990
Publication date： Jan. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は波形測定装置に関し、その目的は、データ表示のアップデートレートについてはハードウェアの能力を最大限に生かし、表示データの更新についてはソフトウェアで知ることができる波形測定装置を実現することにある。【構成】 複数系統のアナログ信号が入力されるマルチプレクサと、該マルチプレクサで選択されたアナログ信号をディジタル信号に変換するデータ収集回路と、該データ収集回路で変換されたディジタル信号の一部にデータ更新のタイミングに同期して更新識別データを付加するデータ処理回路と、該データ処理回路で更新識別データが付加されたディジタル信号をトリガに従ってディスプレイバッファに格納するとともにディスプレイに表示するディスプレイコントローラと、前記ディスプレイバッファに格納されたディジタル信号に付加されている更新識別データに基づいて波形に対する処理を行うCPUとで構成される。

Claim (excerpt)：

複数系統のアナログ信号が入力されるマルチプレクサと、該マルチプレクサで選択されたアナログ信号をディジタル信号に変換するデータ収集回路と、該データ収集回路で変換されたディジタル信号の一部にデータ更新のタイミングに同期して更新識別データを付加するデータ処理回路と、該データ処理回路で更新識別データが付加されたディジタル信号をトリガに従ってディスプレイバッファに格納するとともにディスプレイに表示するディスプレイコントローラと、前記ディスプレイバッファに格納されたディジタル信号に付加されている更新識別データに基づいて波形に対する処理を行うCPU、とで構成されたことを特徴とする波形測定装置。

IPC (3)：

G06F 15/74 330 ,  G01R 13/20 ,  G06F 3/05 321