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J-GLOBAL ID：200903015286755324
MTコネクタのコア位置ずれ測定方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995000335
Publication number (International publication number)：1996184420
Application date： Jan. 05, 1995
Publication date： Jul. 16, 1996
Summary：
【要約】【目的】 光MTコネクタにおける光ファイバ位置測定の測定精度の向上を図る。【構成】 予めコア位置のずれ量及びずれ方向がわかっている基準コネクタと被測定コネクタを、ガイドピン穴に嵌合するガイドピンを用いて接続し、コネクタの接続損失を測定する。次いで、ガイドピンを細いものに交換し、前記両コネクタを接続状態で被測定コネクタを端面方向にずらし、各光ファイバ毎に最も接続損失の小さくなるずらし量、ずらし方向を求めて、基準コネクタに対する相対的位置ずれを求めることによって被測定コネクタのコア位置ずれを測定することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
接続時の位置を決める少なくとも2本のガイドピン穴が形成され、複数本の光ファイバ素線がそれぞれ複数個のファイバ穴に挿入状態で固定された基準コネクタ及び被測定コネクタを、前記ガイドピン穴に嵌合するガイドピンを挿入して接続する第1ステップと、前記基準コネクタのファイバ穴に挿入された光ファイバ素線後端側から光を入射し、前記被測定コネクタのファイバ穴に挿入された光ファイバ素線後端にて該入射光の光パワーを測定する第2ステップと、前記第1ステップの状態で、基準コネクタを静止チャックに、被測定コネクタを移動ステージのチャックに固定し、前記ガイドピンを前記ガイドピンより細いガイドピンと交換する第3ステップと、該第3ステップの状態で、前記基準コネクタに挿入された光ファイバ素線後端側から光を入射し、前記被測定コネクタに挿入された光ファイバ素線後端側にて該入射光の光パワーを測定するとき、X軸,Y軸ステージを動かし該光パワーの最も大きくなるX,Y座標を求める第4ステップと、該第4ステップで求めたX,Y座標と、前記基準コネクタの予め測定され既知のコア位置ずれ座標より前記被測定コネクタのコア位置ずれを演算して求める第5ステップとを備え、前記被測定コネクタのファイバ穴に挿入された光ファイバ素線コアの位置ずれを測定することを特徴とするMTコネクタのコア位置ずれ測定方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
Cited by examiner (1)
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光コネクタの軸ずれ量測定方法および装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-078274
Applicant：日本電信電話株式会社
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