非常に高性能な放射線検出器と、このような放射線検出器を含む視差のない平面天球型X線イメージ装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：金田暢之 (外2名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1999523159
Publication number (International publication number)：2001508935
Application date： Oct. 16, 1998
Publication date： Jul. 03, 2001
Summary：

【要約】一次電子が電離放射線によって気体中に解放されそして電界を通って検出のために捕集電極(CE)にドリフトされる放射線検出器。これには更に、電界に垂直な立体面内に分布される電界集束エリア(1i)の1つまたは幾つかのマトリックスによって形成される気体電子増倍装置(10、11、12)が含まれている。各電界集束エリアは立体面を貫通する小孔から成り、1つの一次電子から電子アバランシェを生成する局所電界振幅の増加を生じる双極子を形成する。気体電子増倍装置は、このようにして、ホスト放射線検出器内で増幅器または前置増幅器として作用する。

Claim (excerpt)：

一次電子が電離放射線によって気体中に解放されそして電界によって捕集電極にドリフトされる放射線検出器において、該放射線検出器には電界集束エリアの少なくとも1つのマトリックスを含む気体電子増倍装置が含まれ、前記電界集束エリアは前記電界にほぼ垂直な立体面に分布されており、前記電界集束エリアの各々は、気体中に前記一次電子の1つから電子アバランシェを生じさせるために適切な局所電界振幅の増加を生じるように形成されており、前記気体電子増倍装置はこのようにして前記一次電子のための所定のゲインの増幅器として作用する放射線検出器。

IPC (4)：

H01J 47/02 , G01T 1/18 , H01J 29/46 , H01J 31/49

FI (4)：

H01J 47/02 , G01T 1/18 A , H01J 29/46 A , H01J 31/49 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

比例マイクロカウンタを有する電離放射線検出器
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-518325 Applicant：サントルナショナルドゥラルシエルシュシアンティフィック

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

New observations with the gas electron multiplier (GEM)

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