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J-GLOBAL ID：200903015439857407

X線診断装置

Inventor： イエルク ヘンドレ
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 富村 潔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992075403
Publication number (International publication number)：1993103263
Application date： Feb. 25, 1992
Publication date： Apr. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】 付加的なX線被爆を受けることなく絞りの最適調整が達成され得るようにする。【構成】 X線診断装置はX線管2のX線路内に配置された一次X線絞り3と、像メモリ13を有するイメージインテンシファイア-テレビジョン系5〜8とを有する。一次X線絞り3には発信器10が設けられ、この発信器10は一次X線絞り3の個々の絞り部材の位置をこの発信器10に接続された処理回路7へ供給する。処理回路7は、像メモリ内に記憶されていた信号が影響を受けて一次X線絞り3の作用が模擬されるように形成されている。このために、処理回路7は、発信器10に接続された制御コンピュータと、一次X線絞り3の作用を模擬するためのシミュレーション回路とを有している。

Claim (excerpt)：

X線管(2)のX線路内に配置された一次X線絞り(3)と、像メモリ(13)を有するイメージインテンシファイア-テレビジョン系(5〜8)とを備えたX線診断装置において、一次X線絞り(3)に発信器(10、21)が設けられ、この発信器(10、21)は一次X線絞り(3)の個々の絞り部材の位置を発信器(10、21)に接続された処理回路(7)へ供給し、この処理回路は、像メモリ(13)内に記憶されていた信号が影響を受けて一次X線絞り(3)の作用が模擬されるように形成されることを特徴とするX線診断装置。

IPC (2)：

H04N 5/321 ,  A61B 6/06 300

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭58-069532
  
• 特開昭60-111637