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J-GLOBAL ID：200903015454507803

半導体集積回路並びにその設計方法及び検査方法

Inventor： 竹岡 貞巳 ,  太田 光保
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 前田 弘 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999347062
Publication number (International publication number)：2001165996
Application date： Dec. 07, 1999
Publication date： Jun. 22, 2001
Summary：

【要約】【課題】 スキャン設計された半導体集積回路の検査時における全動作の電力消費を、誤動作を生じることなく低く抑える。【解決手段】 スキャンチェーン42上の各スキャンフリップフロップ11,12,17,18と、他のスキャンチェーン43上の各スキャンフリップフロップ13,14,15,16とは、互いに組み合わせ回路部40,41を介した接続関係を持たない。スキャンテスト時に、クロック制御部10は両スキャンチェーン42,43にそれぞれ独立に制御されたクロックCK42,CK43を供給し、シフトイン、キャプチャ、シフトアウトのいずれの動作においても、両スキャンチェーン42,43が互いに独立に動作する。

Claim (excerpt)：

組み合わせ回路部と、各々1つ以上のスキャンチェーンから構成された複数のスキャンチェーングループと、前記複数のスキャンチェーングループの各々に供給するクロックを選択的に制御するためのクロック制御部とを備えた半導体集積回路であって、前記複数のスキャンチェーングループの各々は、互いに他のスキャンチェーングループと前記組み合わせ回路部を介した接続関係を持たないか又は接続が所定数以下であることを特徴とする半導体集積回路。

F-Term (5)：

2G032AC10 ,  2G032AG07 ,  2G032AK15 ,  2G032AK16 ,  2G032AL00