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J-GLOBAL ID：200903015565304170

多点試料分析用SPR分析装置

Inventor： 犬塚 博誠 ,  内海 淳 ,  田原 諭 ,  後藤 崇之 ,  中山 博之
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 曾我 道照 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001265219
Publication number (International publication number)：2003075336
Application date： Sep. 03, 2001
Publication date： Mar. 12, 2003
Summary：

【要約】【課題】 多数の試料を一度に計測できると共に測定精度が良く、高感度かつ高速処理可能な2次元配列の多点試料分析用SPR分析装置を提供すること。【解決手段】 本発明の多点試料分析用SPR分析装置は、電界印加手段から直流電圧に交流電圧を重畳した測定用電圧を金属薄膜及び測定用電極の間に印加し、交流電圧を制御して媒質の屈折率を変化させ、金属薄膜で表面プラズモン共鳴を生じさせることにより、複数の試料における生化学反応を同時に分析することができる構成である。

Claim (excerpt)：

電界が印加されることにより屈折率が変化し、生化学反応測定用の試料を複数搭載する媒質と、前記媒質を搭載する一方の面及び反射面を構成する他方の面を有する金属薄膜と、前記金属薄膜の前記反射面が入射光に対する反射面を構成するように前記金属薄膜が形成され、前記入射光を前記金属薄膜の前記反射面に誘導すると共に、前記反射面で反射された反射光を出力面から出力する光学系と、前記出力面から出力された前記反射光の強度を各試料毎に同時測定する光検出手段と、前記媒質に対向配置され、前記金属薄膜と対をなす測定用電極と、前記金属薄膜及び前記測定用電極の間に電界を印加するための電界印加手段とを備え、前記電界印加手段から直流電圧に交流電圧を重畳した測定用電圧を前記金属薄膜及び前記測定用電極の間に印加し、前記交流電圧を制御して前記媒質の屈折率を変化させ、前記金属薄膜で表面プラズモン共鳴を生じさせることにより、複数の試料における生化学反応を同時に分析できることを特徴とする多点試料分析用SPR分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G01N 33/543 595

FI (2)：

G01N 21/27 C ,  G01N 33/543 595

F-Term (13)：

2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059FF11 ,  2G059FF12 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK04 ,  2G059MM10 ,  2G059PP01