Pat

J-GLOBAL ID：200903015593659782

測距装置

Inventor： 伊藤 健二
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 本多 小平 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996028327
Publication number (International publication number)：1997222322
Application date： Feb. 15, 1996
Publication date： Aug. 26, 1997
Summary：

【要約】【課題】 装置の小型化を図る測距装置を提供することにある。【解決手段】 被写体側へ発光部2からのスポット光を投光する投光手段と、該被写体からの反射光を複数の受光部8で受光する受光手段とを有し、前記投光手段と前記受光手段とを一定基線長を隔てて配置した測距装置において、前記投光手段と前記受光手段とが隣接に保持され、前記発光部の一端部が前記受光部の前記発光部側の一端よりも受光部中心に近くした。

Claim (excerpt)：

被写体側へ発光部からのスポット光を投光する投光手段と、該被写体からの反射光を複数の受光部で受光する受光手段とを有し、前記投光手段と前記受光手段とを一定基線長を隔てて配置した測距装置において、前記投光手段と前記受光手段とが隣接に保持され、前記発光部の一端部が前記受光部の前記発光部側の一端よりも受光部中心に近いことを特徴とする測距装置。

IPC (3)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (3)：

G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A