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J-GLOBAL ID：200903015630179923

画像データ解析方法およびシステム

Inventor： 尾藤 良孝
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 井上 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005206315
Publication number (International publication number)：2007020829
Application date： Jul. 15, 2005
Publication date： Feb. 01, 2007
Summary：

【課題】複数の計測量の経時変化からなる時系列多値画像を解析し、組織判別を支援する解析方法およびシステムを提供する。【解決手段】複数の画像を標準化するための統一マップを設定するステップと、時系列多値画像を統一マップに基づき変形するステップと、変形された時系列多値画像の各画素において、各画素に関連する複数時点での計測量からなるベクトルに距離を設定するステップと、この距離により画素をクラスタリングするステップを有する解析方法により、類似領域を抽出する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

複数の計測量の時系列画像を解析する画像データ解析方法において、 画像抽出手段が、複数の計測量の時系列画像を抽出するステップと、 画像距離設定手段が、前記複数の計測量の時系列画像の各画素において、各画素を固定したときに得られる複数時点での計測量からなるベクトルに距離を設定するステップと、 クラスタリング手段が、前記設定した距離により、前記画素をクラスタリングするステップとからなることを特徴とする画像データ解析方法。

IPC (5)：

A61B 5/055 ,  A61B 6/03 ,  A61B 5/00 ,  A61B 8/08 ,  G06T 1/00

FI (7)：

A61B5/05 380 ,  A61B6/03 360E ,  A61B6/03 360Q ,  A61B5/00 G ,  A61B5/00 D ,  A61B8/08 ,  G06T1/00 290Z

F-Term (78)：

2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088FF04 ,  2G088FF07 ,  2G088KK33 ,  2G088KK35 ,  2G088LL11 ,  4C093AA22 ,  4C093AA26 ,  4C093CA16 ,  4C093CA18 ,  4C093CA21 ,  4C093CA37 ,  4C093FD05 ,  4C093FD12 ,  4C093FF06 ,  4C093FF11 ,  4C093FF17 ,  4C093FF24 ,  4C093FF35 ,  4C093FF37 ,  4C093FF38 ,  4C096AA14 ,  4C096AA17 ,  4C096AB37 ,  4C096AB38 ,  4C096AB41 ,  4C096AD13 ,  4C096AD14 ,  4C096DA08 ,  4C096DA11 ,  4C096DA15 ,  4C096DB06 ,  4C096DC09 ,  4C096DC14 ,  4C096DC20 ,  4C096DC21 ,  4C096DC25 ,  4C096DC33 ,  4C117XB09 ,  4C117XE44 ,  4C117XE45 ,  4C117XE46 ,  4C117XG33 ,  4C117XG34 ,  4C117XJ01 ,  4C117XJ17 ,  4C117XJ18 ,  4C117XK07 ,  4C117XK08 ,  4C117XK12 ,  4C117XK18 ,  4C117XK24 ,  4C117XK25 ,  4C117XR07 ,  4C117XR08 ,  4C117XR09 ,  4C117XR10 ,  4C601EE11 ,  4C601JC04 ,  4C601JC05 ,  4C601JC06 ,  4C601JC16 ,  4C601KK20 ,  5B057AA07 ,  5B057BA06 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE05 ,  5B057CE06 ,  5B057DA08 ,  5B057DA16 ,  5B057DC32