Pat

J-GLOBAL ID：200903015748662084

測距点表示装置

Inventor： 土橋 英記
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 中村 稔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994298051
Publication number (International publication number)：1996136797
Application date： Nov. 08, 1994
Publication date： May. 31, 1996
Summary：

【要約】【目的】 測距点選択を素早く行えるようにする。【構成】 得られる測距情報に基づいて、複数の測距点それぞれの測距可否の判定を行う測距可否判定手段1,4と、該測距可否判定手段によって判定された測距可否の表示を行う表示手段3とを設け、各測距点における測距可否表示を行うようにしている。

Claim (excerpt)：

得られる測距情報に基づいて、複数の測距点それぞれの測距可否の判定を行う測距可否判定手段と、該測距可否判定手段によって判定された測距可否の表示を行う表示手段とを備えた測距点表示装置。

IPC (3)：

G02B 7/28 ,  G03B 13/36 ,  G03B 17/20

FI (2)：

G02B 7/11 N ,  G03B 3/00 A