Pat

J-GLOBAL ID：200903015809519166

ガス微量成分測定装置

Inventor： クリストフ・ブラデン
Applicant, Patent owner： バイエル・アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 川原田 一穂
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992357685
Publication number (International publication number)：1993249059
Application date： Dec. 25, 1992
Publication date： Sep. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】 ガスセンサ内メモリに格納された校正データにより自動校正され、かつ測定値が自動表示されるガス微量成分測定装置を提供する。【構成】 ガス微量成分測定装置は、ガスセンサ2、および表示ユニット8も含む実測機器(電子評価回路)1からなる。測定セル3に加えて、上記ガスセンサ2は上記測定セルに特定のデータが格納される電子不揮発性メモリ4を組み込む。これらのデータは、上記測定機器1のコンピュータ7により読出され、またさらに処理される。従って、上記ガス微量成分測定装置が最初に操作される時には、上記コンピュータ7は、上記メモリ4からの感度およびゼロドリフトを検索して、自動的に上記測定機器を校正することができる。

Claim (excerpt)：

ガスセンサ(2)、および表示ユニット(8)を有する電子評価回路(1)からなるガス微量成分測定装置で、測定セル(3)に加えて、上記ガスセンサ(2)は、記憶セルに特定のデータが格納される電子不揮発性メモリ(4)を含むこと、および上記電子評価回路(1)は、上記測定セルに特定のデータを読出し、またさらに処理するコンピュータ(7)を組み込むことを特徴とするガス微量成分測定装置。

IPC (3)：

G01N 27/00 ,  G01N 27/04 ,  G01N 27/26 381