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J-GLOBAL ID:200903015908157225

プロセス用の紫外線吸光度測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 志賀 富士弥 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995109205
Publication number (International publication number):1996304383
Application date: May. 08, 1995
Publication date: Nov. 22, 1996
Summary:
【要約】【目的】 オゾン処理水中に溶存オゾンが存在していても、簡易な前処理を実施するか他の測定機器を付加することにより、有機物の吸収に由来する紫外線吸光度を正確且つ連続的に測定できるプロセス用の紫外線吸光度測定方法及び装置を提供することを目的とする。【構成】 被処理水をオゾン処理するようにしたプロセスにおいて、オゾン処理を実施した後の被処理水を検水として、この検水に脱オゾン剤を注入混合し、所定時間滞留することによって溶存オゾンを除去し、この脱オゾンされた検水を測定セル内に流入して、光源から該検水中を通過した光を受光器に受信し、変換器・計算部で有機物に由来する紫外線吸光度を計測するようにしたプロセス用の紫外線吸光度測定方法と装置を提供する。上記脱オゾン剤として、チオ硫酸ナトリウム溶液もしくは亜硫酸ナトリウム溶液を用いる。
Claim (excerpt):
被処理水をオゾン処理することにより、水中の溶存性の微量有機物質を除去するようにしたプロセスにおいて、上記オゾン処理を実施した後の被処理水を検水として採取して、この溶存オゾンを含む検水に脱オゾン剤を注入混合し、所定時間滞留することにより検水中の溶存オゾンを除去し、この脱オゾンされた検水を測定セル内に流入して、光源から該検水中を通過した光を受光器に受信し、変換器・計算部で有機物に由来する紫外線吸光度を計測することを特徴とするプロセス用の紫外線吸光度測定方法。
IPC (2):
G01N 33/18 ,  G01N 21/33
FI (2):
G01N 33/18 B ,  G01N 21/33
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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