Pat

J-GLOBAL ID：200903015930522557

日影の評価方法、および反射光の評価方法

Inventor： 中澤 孝志 ,  北 治 ,  野川 保次
Applicant, Patent owner： 関西電力株式会社 ,  株式会社きんでん
Agent (1)： 岡崎 謙秀 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996000747
Publication number (International publication number)：1997189603
Application date： Jan. 08, 1996
Publication date： Jul. 22, 1997
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 太陽電池を設置する任意の地点の周辺に存在する建造物などの障害物等による日影、および反射光の影響を簡易に評価することのできる日影の評価方法、および反射光の評価方法を提供する。【解決手段】 任意地点において魚眼レンズを搭載したカメラにより半球面像を撮影し、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と半球面像とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対象移動させることにより日影の境界線を得ることと反射光の軌跡を得る。

Claim (excerpt)：

任意地点に影響を及ぼす任意地点周辺物による日影を評価する方法であって、任意地点において魚眼レンズを搭載したカメラにより半球面像を撮影し、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と前記半球面像とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対象移動させることにより日影の境界線を得ることを特徴とする日影の評価方法。

IPC (2)：

G01J 1/02 ,  G01W 1/12

FI (2)：

G01J 1/02 U ,  G01W 1/12 J

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 受光量測定方法および日照条件測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-254614   Applicant：池田貴昭