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J-GLOBAL ID:200903015987493006
体の表面ラインを検出する測定構造体
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
江崎 光史 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000579125
Publication number (International publication number):2002528734
Application date: Nov. 04, 1998
Publication date: Sep. 03, 2002
Summary:
【要約】測定構造体は、自由に動くことができる測定装置(1)と、測定されたデータを処理するためのコンピュータ(6)を備えている。測定装置(1)内には2個の測定機器(3,13)が配置されている。この測定機器はそれぞれ2個の加速度センサ(7,9,11)を備えている。その際、それぞれ2個のセンサ(7,9または9,11)が共通の平面内にある。互いに直角の2つの測定平面が設けられている。測定装置(1)内には更に、測定装置(1)の摺動路程の長さを検出するための測定=(15)を備えた測定機器が設けられている。測定装置は体(22)の表面ライン(21)の形状と長さを検出することができ、かつ一平面内に0〜360°の測定範囲を有する2つの三次元平面内で形状と長さを示すことができる。測定装置(1)の入力要素(19,20)と表示装置(41)は測定を簡単化し、測定過程を直接制御および監視することができる。
Claim (excerpt):
自由に動くことができる測定装置(1)を具備し、この測定装置が、表面ライン(21)に沿った測定装置(1)の摺動路程の長さを測定するための測定機器(2)と、予め定められた基準軸線(5)に対する、測定装置(1)の測定軸線(4)の角度の変化を測定するための測定機器(3)とを備え、更に、コンピュータ(6)と、コンピュータ(6)へのデータ伝送装置とを具備し、このコンピュータが測定機器(2,3)の路程値と角度値を処理して表面ライン(21)を示す、空間内での体(22)の表面ライン(21)の形状と長さを検出するための測定構造体において、角度変化を測定するための測定機器(3)が、1本ずつの測定軸線(8,10)を有する2個の加速度センサ(7,9)を備え、この加速度センサ(7,9)の測定軸線(8,10)が共通の平面内に配置され、両測定軸線(8,10)がこの平面内で互いに直角であり、摺動路程のための測定機器(2)の測定軸線(4)が同様にこの共通の平面内に配置されていることを特徴とする測定構造体。
IPC (4):
G01B 21/20
, A61B 5/107
, G01B 5/02 101
, G01B 21/02
FI (4):
G01B 21/20 C
, G01B 5/02 101 A
, G01B 21/02 B
, A61B 5/10 300 B
F-Term (55):
2F062AA22
, 2F062AA72
, 2F062BC19
, 2F062CC22
, 2F062CC23
, 2F062EE01
, 2F062EE09
, 2F062EE34
, 2F062EE62
, 2F062EE64
, 2F062FF04
, 2F062FF25
, 2F062FF28
, 2F062GG22
, 2F062GG38
, 2F062HH15
, 2F062JJ03
, 2F062KK01
, 2F062LL09
, 2F062LL11
, 2F069AA04
, 2F069AA32
, 2F069AA62
, 2F069AA66
, 2F069AA72
, 2F069BB40
, 2F069DD16
, 2F069DD24
, 2F069DD25
, 2F069DD27
, 2F069GG01
, 2F069GG04
, 2F069GG37
, 2F069GG41
, 2F069GG52
, 2F069GG59
, 2F069GG62
, 2F069GG64
, 2F069GG71
, 2F069HH15
, 2F069HH26
, 2F069HH30
, 2F069JJ07
, 2F069JJ25
, 2F069NN00
, 2F069NN06
, 2F069NN08
, 2F069QQ05
, 2F069QQ08
, 2F069QQ09
, 2F069QQ12
, 2F069RR12
, 4C038VA04
, 4C038VB40
, 4C038VC20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
-
形状測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-201103
Applicant:株式会社トキメック
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特開平3-285111
-
特開平3-285111
-
輪郭線の測量方法及びその装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平8-526585
Applicant:クローゼ,ヴェルナー, シュテルツィク,ミヒャエル
-
特開昭61-140816
-
特開平3-289512
-
歩行位置検出装置および歩行者用経路案内装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-117948
Applicant:本田技研工業株式会社
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3次元座標測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-087129
Applicant:株式会社リコー
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