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J-GLOBAL ID：200903016099498934

接触ピン

Inventor： 野田 直孝 ,  矢島 隆弘 ,  津山 和彦 ,  三木 利信
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 岩橋 文雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999270811
Publication number (International publication number)：2001091538
Application date： Sep. 24, 1999
Publication date： Apr. 06, 2001
Summary：

【要約】【課題】 良好な接触を有する接触ピンを得る。【解決手段】 導電性を有する筒体11と、この筒体11内に設けられたバネ13と、筒体11の先端部11a,11bに摺動可能に設けられるとともにバネ13で外側方向に押圧される導電性の接触部14あるいは17とを備え、接触部14,17には、筒体11内から接触ピン26の先端部15,18まで貫通した孔16,19を設けた構成としたものである。これにより良好な接触を得ることができる。

Claim (excerpt)：

導電性を有する筒体と、この筒体内に設けられた弾性体と、前記筒体の端部に摺動可能に設けられるとともに前記弾性体で外側方向に押圧される導電性の接触部とを備え、前記接触部には前記筒体内から前記接触ピンの先端部まで貫通した孔を設けた接触ピン。

IPC (3)：

G01R 1/067 ,  G01R 1/06 ,  H01R 13/02

FI (3)：

G01R 1/067 C ,  G01R 1/06 A ,  H01R 13/02

F-Term (9)：

2G011AA04 ,  2G011AA07 ,  2G011AB01 ,  2G011AB04 ,  2G011AB07 ,  2G011AC02 ,  2G011AC13 ,  2G011AC14 ,  2G011AE01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 配線基板検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-045442   Applicant：株式会社三井ハイテック