Pat

J-GLOBAL ID：200903016107975976

SCSIインタフエースの検査装置とそれを用いた検査方法

Inventor： 永野 雅昭
Applicant, Patent owner： 株式会社リコー
Agent (1)： 大澤 敬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991236515
Publication number (International publication number)：1993073445
Application date： Sep. 17, 1991
Publication date： Mar. 26, 1993
Summary：

【要約】【目的】 コストが安くて作業性がよく、故障原因の解析が容易なSCSIインタフェースの検査装置及びその装置を用いた検査方法を提供し、検査工数を短縮する。【構成】 接続手段であるテストコネクタ15を、図示しない電子装置本体のCPUを含むコントローラのSCSI-I/Fに装着する。CPUから各制御ライン/ATN,/BSY....../I/Oに各1本ずつ順に信号を出力し、CPUはそれらと対をなすデータライン/DB0〜/DB7,/DBPに入力した信号を出力信号と比較してその一致/不一致を判定することにより、どの一対のラインに異常があるかを特定する。さらに、端子間の接続の組合せの異なる他のテストコネクタを装着して2回目の検査を行えば、異常のある一対のラインのうち制御ライン,データラインのどちらか、又は両方共に異常があるかを特定することが可能になる。

Claim (excerpt)：

SCSIインタフェースを備えた電子装置の前記SCSIインタフェースの信号ライン群の接続の良否を検査する検査装置において、前記信号ライン群を出力ライン群と入力ライン群とに2分し、それらのライン群を構成する出力ラインと入力ラインとをそれぞれ1:1の対応で接続する接続手段と、前記各出力ラインに出力したデータと、それぞれ対応する各入力ラインに入力したデータとを比較して一致/不一致を判定する比較手段とを設けたことを特徴とするSCSIインタフェースの検査装置。

IPC (3)：

G06F 13/00 301 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 370

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-195560
  
• 特開平2-001679
  
• 特開昭63-182761