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J-GLOBAL ID：200903016136533443

パターン認識装置及びパターン認識方法

Inventor： 瀧澤 雅晴 ,  石原 裕之
Applicant, Patent owner： 富士通オートメーション株式会社
Agent (1)： 岡本 啓三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993101115
Publication number (International publication number)：1994309459
Application date： Apr. 27, 1993
Publication date： Nov. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】 本発明はパターン認識装置の改善に関し、各種形状パターンが互いに接触又は重なり合うことにより、外部輪郭線と内部輪郭線とが存在する場合であっても、外部輪郭線から幾何学計算方法によって、内部輪郭線を抽出し、被認識形状パターンから各種形状パターンを迅速に認識することを目的する。【構成】 被認識対象14の画像を取得して信号処理をする画像取得手段11と、被認識対象14から各種形状パターンA,B,C...を抽出計測する形状認識手段12と、画像取得手段11及び形状認識手段12の入出力を制御する制御手段13とを具備し、制御手段13が被認識対象14の各種形状パターンA,B,C...の外部輪郭線の探索制御に基づいて内部輪郭線の探索制御をすることを含み構成し、内部輪郭線の探索制御は、被認識形状パターンの外部輪郭線上の屈曲点piを基準にして、外部輪郭線上の輪郭点p1,p2に至る2方向にベクトルV1,V2を設定し、両ベクトルV1,V2の成す屈曲角θを2分割するベクトルV〔θ〕の反転ベクトル-V〔θ〕の方向に探索処理を進めることを含み構成する。

Claim (excerpt)：

被認識対象(14)の画像を取得して信号処理をする画像取得手段(11)と、前記被認識対象(14)から各種形状パターン(A,B,C...)を抽出計測する形状認識手段(12)と、前記画像取得手段(11)及び形状認識手段(12)の入出力を制御する制御手段(13)とを具備し、前記制御手段(13)が被認識対象(14)の各種形状パターン(A,B,C...)の外部輪郭線の探索制御に基づいて内部輪郭線の探索制御をすることを特徴とするパターン認識装置。

IPC (3)：

G06F 15/70 455 ,  G01B 11/24 ,  G06F 15/62 380