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J-GLOBAL ID：200903016158647604

粒度分布測定装置

Inventor： 島岡 治夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994324257
Publication number (International publication number)：1996178825
Application date： Dec. 27, 1994
Publication date： Jul. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 高濃度の試料懸濁液を希釈することなく、しかも多重散乱を生じさせることなく、正確に散乱光強度分布を測定して誤差の少ない粒度分布測定を行うことのできる粒度分布測定装置を提供する。【構成】 レーザ光を照射すべく被測定粒子群を収容する試料セル3を、2枚のガラス板31,32と、これらを照射レーザ光の光軸に交差させた状態で着脱自在に保持する支持部材33によって構成し、その2枚のガラス板31,32の間に、被測定粒子群が媒液中に分散してなる懸濁液Sを挟み込んだ状態で静的に保持するように構成し、薄い懸濁液層にレーザ光を照射することによって高濃度懸濁液でも多重散乱を生じさせないようにする。

Claim (excerpt)：

分散状態の被測定粒子群にレーザ光を照射することによって得られる回折/散乱光の空間強度分布を測定し、その測定結果から被測定粒子群の粒度分布を算出する装置において、レーザ光を照射すべく被測定粒子群を収容する試料セルが、2枚のガラス板と、これらを照射レーザ光の光軸に対して交差させた状態で着脱自在に支持する支持部材とからなり、その2枚のガラス板の間に、被測定粒子群が媒液中に分散してなる懸濁液を挟み込んだ状態で静的に保持することを特徴とする粒度分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 粒度分布測定用セル
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-206677   Applicant：株式会社島津製作所