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J-GLOBAL ID：200903016174455120

質量分析計

Inventor： 坂入 実 ,  平林 集 ,  高田 安章 ,  神原 秀記
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991216892
Publication number (International publication number)：1993052813
Application date： Aug. 28, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】耐薬品性に優れ、低い電圧で静電噴霧を可能とする静電噴霧イオン源を有する液体クロマトグラフ・質量分析計を提供する。【構成】試料溶液を静電噴霧するための静電噴霧用細管32に、導電性樹脂を塗布した、あるいは金属を蒸着した細管45を用いる。【効果】低い電圧で静電噴霧が可能となり、この結果、試料溶液の溶媒に電解質を用いた場合でも、液体クロマトグラフと質量分析計を結ぶインターフェイスから液体クロマトグラフ側に流れる電流を低く抑えることができ、容量の低い電源で静電噴霧が可能となる。

Claim (excerpt)：

試料溶液をポンプにより細管内に導入して、該細管先端に強電界を集中させ該試料溶液を静電噴霧してイオンを生成させる静電噴霧器と、生成したイオンの一部を細孔を有する複数の試料導入用の電極を通して、高真空中に導入して上記イオンを質量分析するための質量分析部とからなる質量分析計において、電気絶縁性を有する細管の外周面または外周面及び上記電極に対向する先端の面に、導電性樹脂を薄く塗布するかまたは金属を薄く蒸着してなる導電膜を有する静電噴霧用細管が装着された静電噴霧器を使用することを特徴とする質量分析計。

IPC (4)：

G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10