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J-GLOBAL ID：200903016294204309

光学的測定装置

Inventor：
菱刈 功

About 菱刈 功

, 
石毛 光雄

About 石毛 光雄


Applicant, Patent owner：
株式会社チノー

About 株式会社チノー


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994208079
Publication number (International publication number)：1996054264
Application date： Aug. 09, 1994
Publication date： Feb. 27, 1996
Summary：
【要約】【目的】被測定対象の複数の性状を1個の装置で同時に測定する。【構成】被測定対象3からの放射エネルギーのうち、水分に吸収されない第1の測定波長、水分に吸収される第2の測定波長、可視光領域の第3の測定波長の各波長に分離する回転セクタ5のような分離手段と、この分離手段により分離された前記各波長成分のすべてを測定することができるInGaAs素子よりなる検出素子6と、この検出素子の出力信号のうち第1の測定波長成分を基準とし、この第1の測定波長成分に対応した信号e1から坪量または厚み、第2の測定波長成分に対応した信号e2と第1の測定波長成分に対応した信号e1の比から水分率、第3の測定波長成分e3に対応した信号と第1の測定波長成分に対応した信号e1の比から色あい等のその他の性状を測定する演算手段91、92とを備える。
Claim (excerpt)：
被測定対象からの放射エネルギーのうち、水分に吸収されない第1の測定波長、水分に吸収される第2の測定波長、可視光領域の第3の測定波長の各波長に分離する分離手段と、この分離手段により分離された前記各波長成分のすべてを測定することができるInGaAs素子よりなる検出素子と、この検出素子の出力信号のうち第1の測定波長成分を基準とし、この第1の測定波長成分に対応した信号から坪量または厚み等の材質、第2の測定波長成分に対応した信号と第1の測定波長成分に対応した信号の比から水分率、第3の測定波長成分に対応した信号と第1の測定波長成分に対応した信号の比から色あい等の性状を測定する演算手段とを備えたことを特徴とする光学的測定装置。
IPC (4)：
G01D 21/02 ,  G01B 11/06 ,  G01J 3/46 ,  G01N 21/35
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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