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J-GLOBAL ID：200903016326069220

核医学診断装置、陽電子放出型断層撮影装置、及び半導体放射線検出装置

Inventor： 雨宮 健介 ,  上野 雄一郎 ,  北口 博司 ,  横溝 修 ,  小嶋 進一 ,  土屋 一俊 ,  柳田 憲史 ,  横井 一磨
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 磯野 道造
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003340688
Publication number (International publication number)：2005106644
Application date： Sep. 30, 2003
Publication date： Apr. 21, 2005
Summary：

【課題】 撮像装置の、ベッドの長手方向における長さを短くできる核医学診断装置を提供する。 【解決手段】 検出器ユニット内に設置される結合基板(ユニット基板、半導体放射線検出装置)20は、複数の検出器21が設置された検出器基板(第1の基板)20A、及びコンデンサ22、抵抗23、アナログASIC24、アナログ/デジタル変換器25及びデジタルASIC26が設置されたASIC基板(第2の基板)20Bを有する。検出器21のみならず、アナログASIC24及びデジタルASIC26が1つの結合基板20に含まれているため、検出器21、アナログASIC24及びデジタルASIC26を、ベッド14の長手方向、すなわち、検査を受ける被検者の体軸と直交する方向に配置できるため、カメラ(撮像装置)11のベッド長手方向における長さを必要以上に長くしなくても済む。 【選択図】 図7

Claim (excerpt)：

核医学診断装置に用いられる半導体放射線検出器であって、 前記半導体放射線検出器は、放射線と相互作用を起こして電荷を生成する半導体領域を有し、この半導体領域を挟んで、アノード電極とカソード電極とが対峙しており、前記アノード電極とカソード電極との電極間距離、或いは前記アノード電極とカソード電極の間に挟まれる前記半導体領域の厚さが0.2〜2mmであること、 を特徴とする半導体放射線検出器。

IPC (4)：

G01T1/24 ,  G01T1/161 ,  H01L27/14 ,  H01L31/09

FI (6)：

G01T1/24 ,  G01T1/161 A ,  G01T1/161 C ,  G01T1/161 E ,  H01L31/00 A ,  H01L27/14 K

F-Term (28)：

2G088EE02 ,  2G088FF04 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ02 ,  2G088JJ06 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ15 ,  2G088JJ24 ,  2G088JJ25 ,  2G088JJ33 ,  2G088JJ36 ,  2G088JJ37 ,  2G088KK15 ,  4M118AA01 ,  4M118AB01 ,  4M118BA05 ,  4M118CA14 ,  4M118CB02 ,  4M118CB05 ,  4M118CB14 ,  4M118GA10 ,  5F088AB07 ,  5F088AB09 ,  5F088BA02 ,  5F088BB07 ,  5F088HA15 ,  5F088LA07

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 放射線検査装置及び放射線検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-275897   Applicant：株式会社日立製作所
• 放射線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-368062   Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (3)

• 特開昭63-049140
  
• 特開平4-203997
  
• 放射線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-368062   Applicant：株式会社日立製作所