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J-GLOBAL ID:200903016415136810

入試問題演習分析方法及びそのシステム用記憶媒体

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 富崎 元成 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001010430
Publication number (International publication number):2002215016
Application date: Jan. 18, 2001
Publication date: Jul. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】本発明の目的は、学校の入学試験問題を分析して出題問題の傾向を把握し、生徒の成績によって、学校の入学試験問題の出題領域傾向を取り入れてアドバイスする方法およびそのシステム用記憶媒体を提供することにある。【解決手段】入試問題を学校、年度、科目、前記科目の問題の出題領域ごとに分けて分析して学校の出題傾向を把握し、前記出題傾向を有するコメントからなる領域別・観点別アドバイスデータベース12を用意し、生徒の試験の成績に対して最適な前記コメントを前記アドバイスデータベース12から抽出して助言する。
Claim (excerpt):
複数の学校の入試問題を学校、年度、科目、設問ごとに分けて分析し、前記分析の結果から構成される問題分析データベースと、生徒の演習結果に対するアドバイスのデータから構成されるアドバイスデータベースとを格納した記憶手段とを有する電子計算機を利用した学習支援システムにおいて、前記分析の結果をまとめて学校の出題傾向を把握し、前記アドバイスデータベースは前記出題傾向を有するコメントからなり、前記生徒を前記入試問題で試験して評価し、前記評価の結果に対して最適な前記コメントを前記アドバイスデータベースから抽出して助言することを特徴とする入試問題演習分析方法。
IPC (3):
G09B 19/00 ,  G06F 17/60 128 ,  G09B 5/14
FI (3):
G09B 19/00 H ,  G06F 17/60 128 ,  G09B 5/14
F-Term (14):
2C028AA02 ,  2C028AA07 ,  2C028AA08 ,  2C028BA01 ,  2C028BA02 ,  2C028BB05 ,  2C028BB06 ,  2C028BB08 ,  2C028BC01 ,  2C028BC02 ,  2C028BC05 ,  2C028BD02 ,  2C028BD03 ,  2C028CA13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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