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J-GLOBAL ID:200903016415136810
入試問題演習分析方法及びそのシステム用記憶媒体
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
富崎 元成 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001010430
Publication number (International publication number):2002215016
Application date: Jan. 18, 2001
Publication date: Jul. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】本発明の目的は、学校の入学試験問題を分析して出題問題の傾向を把握し、生徒の成績によって、学校の入学試験問題の出題領域傾向を取り入れてアドバイスする方法およびそのシステム用記憶媒体を提供することにある。【解決手段】入試問題を学校、年度、科目、前記科目の問題の出題領域ごとに分けて分析して学校の出題傾向を把握し、前記出題傾向を有するコメントからなる領域別・観点別アドバイスデータベース12を用意し、生徒の試験の成績に対して最適な前記コメントを前記アドバイスデータベース12から抽出して助言する。
Claim (excerpt):
複数の学校の入試問題を学校、年度、科目、設問ごとに分けて分析し、前記分析の結果から構成される問題分析データベースと、生徒の演習結果に対するアドバイスのデータから構成されるアドバイスデータベースとを格納した記憶手段とを有する電子計算機を利用した学習支援システムにおいて、前記分析の結果をまとめて学校の出題傾向を把握し、前記アドバイスデータベースは前記出題傾向を有するコメントからなり、前記生徒を前記入試問題で試験して評価し、前記評価の結果に対して最適な前記コメントを前記アドバイスデータベースから抽出して助言することを特徴とする入試問題演習分析方法。
IPC (3):
G09B 19/00
, G06F 17/60 128
, G09B 5/14
FI (3):
G09B 19/00 H
, G06F 17/60 128
, G09B 5/14
F-Term (14):
2C028AA02
, 2C028AA07
, 2C028AA08
, 2C028BA01
, 2C028BA02
, 2C028BB05
, 2C028BB06
, 2C028BB08
, 2C028BC01
, 2C028BC02
, 2C028BC05
, 2C028BD02
, 2C028BD03
, 2C028CA13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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データ収集装置及びそれを利用したデータ処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-149697
Applicant:株式会社メディアファイブ
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特開昭60-070474
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観点別評価用テスト問題集
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-029053
Applicant:株式会社日本標準
-
特開昭60-070474
-
問題作成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-308008
Applicant:株式会社学習研究社
-
試験分析シュミレーションシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-083676
Applicant:株式会社ニューイーシーシステム
-
自動採点装置と採点表示方法及びこれらに用いられる解答用紙
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-167995
Applicant:株式会社秀帥
-
資格管理システム及び記録媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-113248
Applicant:富士通株式会社
-
特開平3-255491
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コンピュータ支援学習方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-337215
Applicant:株式会社理想科学研究所
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