Pat

J-GLOBAL ID：200903016445516707

熱分析装置

Inventor： 中村 信隆 ,  寺本 芳彦
Applicant, Patent owner： セイコー電子工業株式会社
Agent (1)： 林 敬之助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993238408
Publication number (International publication number)：1995092117
Application date： Sep. 24, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 交流熱量計で使われる手法を援用することにより、試料の熱容量と潜熱の情報が不可分に重畳されたDSC信号から熱容量に関する成分を抽出こと。【構成】 熱溜の温度を交流変調された直線関数に従って変化させた時、熱溜から試料への熱流路中に設けられた2点間の温度差と、熱溜から基準試料への熱流路中に試料側と対称的に設けられた2点間の温度差とを測定した後、それらの測定信号を復調して交流成分と低周波成分とに分離し、それぞれの信号を用いてDSC信号を熱容量成分と潜熱成分とに分離する。

Claim (excerpt)：

熱良導体から成る熱溜と、前記熱溜の温度を所定の一定速度で変化させる定速温度変化手段と、前記熱溜の温度を所定の周波数と振幅を有する周期関数に従って変化させる交流温度変化手段と、前記熱溜と試料の間と前記熱溜と基準試料の間とを対称的に連結し熱流路を形成する熱抵抗体と、前記熱抵抗体の熱流路上で試料近傍の定点と熱溜試料間の定点との間の熱流を温度差として計測する第1の温度差計測手段と、前記第1の温度差計測手段と対称的に形成されるとともに熱流路上の基準試料近傍の定点と熱溜基準試料間の定点との間の熱流を温度差として計測する第2の温度差計測手段と、前記熱抵抗体の試料近傍の温度を計測する試料温度計測手段と、前記第1の温度差計測手段と前記第2の温度差計測手段と前記試料温度計測手段による出力を時間または試料温度の関数として記録する手段とを備え、前記熱溜の温度は前記定速温度変化手段と前記交流温度変化手段とにより交流変調されたランプ関数に従って変化することを特徴とする熱分析装置。