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J-GLOBAL ID：200903016465170211

クロマトグラフ装置

Inventor： 森 聖年 ,  山田 宜昭 ,  伊藤 正人 ,  滝 正弘
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999258393
Publication number (International publication number)：2001083133
Application date： Sep. 13, 1999
Publication date： Mar. 30, 2001
Summary：

【要約】【課題】クロマトグラムの波形計算精度を向上させたクロマトグラフ装置を提供する。【解決手段】測定対象試料を分離する分離手段と、当該カラムによって分離された成分を検出する検出手段と、当該検出手段によって得られるクロマトグラムを基にデータ処理を行うデータ処理手段とを有するクロマトグラフ装置において、前記データ処理手段は、前記クロマトグラム中の各ピークに対して、ピーク面積,ピーク高さ,ピーク位置を計算する際に、異なるクロマトグラム波形計算処理アルゴリズムを所定の条件の基づき切り換えながら計算を行う。【効果】ピーク形状に最適なクロマトグラム波形計算処理アルゴリズムを使用してピーク位置,ピーク面積,ピーク高さを計算することで、波形計算精度が向上する。

Claim (excerpt)：

測定対象試料を分離する分離手段と、当該カラムによって分離された成分を検出する検出手段と、当該検出手段によって得られるクロマトグラムを基にデータ処理を行うデータ処理手段とを有するクロマトグラフ装置において、前記データ処理手段は、前記クロマトグラム中の各ピークに対して、ピーク面積,ピーク高さ,ピーク位置を計算する際に、異なるクロマトグラム波形計算処理アルゴリズムを所定の条件の基づき切り換えながら計算を行うことを特徴とするクロマトグラフ装置。