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J-GLOBAL ID：200903016484658004
質量分析方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999199856
Publication number (International publication number)：2001028252
Application date： Jul. 14, 1999
Publication date： Jan. 30, 2001
Summary：
【要約】【課題】精密質量測定に必要な内部標準物質の量を低減しても感度良く精密質量マスクロマトグラムを測定することのできる質量分析方法を提供する。【解決手段】試料中の成分を時間の関数として分離する成分分析手段と、該分離された試料成分を順次イオン化して繰り返しそのマススペクトルを測定する質量分析計とを組み合わせた質量分析方法において、質量数既知の標準物質を前記試料成分と共にイオン化してマススペクトルを測定し、標準物質由来のシグナルに基づいて該マススペクトルの質量校正を行なう場合に、時間的に接近して得られた複数のマススペクトルで観測された標準物質由来のシグナルを参照して質量校正を行なうようにした。
Claim (excerpt)：
試料中の成分を時間の関数として分離する成分分析手段と、該分離された試料成分を順次イオン化して繰り返しそのマススペクトルを測定する質量分析計とを組み合わせた質量分析方法において、質量数既知の標準物質を前記試料成分と共にイオン化してマススペクトルを測定し、標準物質由来のシグナルに基づいて該マススペクトルの質量校正を行なう場合に、時間的に接近して得られた複数のマススペクトルで観測された標準物質由来のシグナルを参照して質量校正を行なうようにしたことを特徴とする質量分析方法。
IPC (2)：
FI (2)：
H01J 49/26
, G01N 27/62 D
