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J-GLOBAL ID：200903016526201972

光学式測定装置及び測定方法

Inventor： 山岡 直次 ,  小田 幸治 ,  分藤 勲
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 北村 欣一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994171226
Publication number (International publication number)：1996035816
Application date： Jul. 22, 1994
Publication date： Feb. 06, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 ワークの孔部の位置計測を正確に且つ能率良く行い得られるようにすると共に、ワークの断面計測も行い得られるようにする。【構成】 ロボット等の移動機構に対し所定の位置関係で定置した測定基準部材に測定ヘッド2を対向させ、スポット光を照射した状態で両撮像器231,232により該基準部材を撮像し、三角測量の原理で空間座標における該基準部材の中心位置を計測し、これと基準位置とを比較して測定ヘッドの位置決め精度を検査する。ワークの孔部に測定ヘッド2を対向させ、撮像器231を用いてスポット光方式とスリット光方式との併用による孔位置の計測を行う。ワークの所定の計測部位に測定ヘッド2を対向させ、撮像器231を用いてスリット光による断面計測を行う。

Claim (excerpt)：

ロボット等の移動機構に搭載される測定ヘッドに、ワークにスポット光を照射するスポット光源と、ワークにスリット光を照射するスリット光源と、2個の撮像器とを設け、該両撮像器を該両撮像器の光軸が所定の平面上で互に斜交するように配置すると共に、スリット光源をスリット光の光面が少なくとも一方の撮像器の光軸に斜交する、前記平面に直交する面に合致するように配置したことを特徴とする光学式測定装置。

IPC (3)：

G01B 11/00 ,  B25J 13/08 ,  G01B 11/24

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭64-078104
  
• 特開昭61-283805