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J-GLOBAL ID:200903016741928310

半導体単結晶の成長方法及び貼り合わせ基板の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山下 穣平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993320293
Publication number (International publication number):1995176487
Application date: Dec. 20, 1993
Publication date: Jul. 14, 1995
Summary:
【要約】【目的】 単結晶品質、膜厚分布が極めて優れたSOI基板を、再現性良く低コストで生産する。【構成】 多孔質半導体表面を絶縁物化して絶縁層を形成する第1の工程と、前記絶縁層の少なくとも一部を除去することにより前記多孔質半導体の露出表面を形成する第2の工程と、還元性ガス又は還元性ガスを主成分とする雰囲気中において、前記多孔質半導体が前記絶縁層のない場合は構造変化を起こす第1の温度で、前記露出表面を熱処理する第3の工程と、1気圧又はその近傍の気圧のガス圧力中、前記第1の温度とほぼ同一又は前記第1の温度より低い第2の温度にて、前記多孔質半導体上に半導体単結晶を成長させる第4の工程と、を含む。
Claim (excerpt):
多孔質半導体表面を絶縁物化して絶縁層を形成する第1の工程と、前記絶縁層の少なくとも一部を除去することにより前記多孔質半導体の露出表面を形成する第2の工程と、還元性ガス又は還元性ガスを主成分とする雰囲気中において、前記多孔質半導体が前記絶縁層のない場合は構造変化を起こす第1の温度で、前記露出表面を熱処理する第3の工程と、1気圧又はその近傍の気圧のガス圧力中、前記第1の温度とほぼ同一又は前記第1の温度より低い第2の温度にて、前記多孔質半導体上に半導体単結晶を成長させる第4の工程と、を含む半導体単結晶の成長方法。
IPC (3):
H01L 21/205 ,  H01L 21/20 ,  H01L 27/12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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