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J-GLOBAL ID:200903016750756602

仕上検査システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐々木 功 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994042290
Publication number (International publication number):1995254020
Application date: Mar. 14, 1994
Publication date: Oct. 03, 1995
Summary:
【要約】【目的】建築現場における仕上検査を簡単かつ効率的に行うための仕上検査システムを提供する。【構成】検査員が携行する検査データ入力装置として汎用電子手帳を使用し、汎用パソコンで作成編集した検査用図面および検査用マスタデータを電子手帳にダウンロードし、この電子手帳の画面上で、図面に直接ペンタッチにより検査データを入力し、検査終了後、電子手帳のICメモリカードに記憶された検査データをパソコンで処理し、各種帳票を印刷出力するように構成される。
Claim (excerpt):
仕上検査アプリケーションソフトを記憶するICメモリカードを装填した汎用携帯型端末器と、該携帯型端末器で収集した検査データを処理するために検査データ処理アプリケーションソフトによって動作する汎用パソコンと、前記パソコンから前記ICメモリカードへのデータの書き込み、および、前記ICメモリカードから前記パソコンへのデータの読み込みを行うICメモリカード読出/書込手段とを備えることを特徴とする仕上検査システム。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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