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J-GLOBAL ID：200903016830624774

粒子形状等の測定方法及びその装置

Inventor： 吉山 秀典
Applicant, Patent owner： 工業技術院長
Agent (1)： 工業技術院資源環境技術総合研究所長
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996010706
Publication number (International publication number)：1997203703
Application date： Jan. 25, 1996
Publication date： Aug. 05, 1997
Summary：

【要約】【課題】 浮遊微粒子の形状や種類、大きさの推定または同定を、測定時間を短縮して行い、即時性、かつ連続性をもって行えるようにする。【解決手段】 散乱平面に垂直または水平方向に偏光された単一波長偏光2を、検出領域11に浮遊状態で導入された微粒子1に照射する。微粒子からの散乱光は、垂直及び水平方向の偏光成分のみを通過させる偏向板12,13を通して一対の散乱光検出素子14,15により同時に検出し、両成分の強度の角度分布に基づいて微粒子1の形状、大きさを推定または同定する。

Claim (excerpt)：

散乱平面に垂直または水平方向に偏光された単一波長偏光を、検出領域に導入された微粒子に照射し、微粒子からの散乱光の垂直及び水平方向の偏光成分強度の角度分布を、上記散乱平面に沿い且つ照射される単一波長偏光の光軸の両側に設置した散乱光検出素子により、微粒子から散乱する散乱光のうちで垂直方向及び水平方向の偏光のみを通過させる偏光板を通して同時に測定し、これらの偏光成分の角度分布に基づいて微粒子の形状、大きさを推定または同定することを特徴とする粒子形状等の測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 花粉検出器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-039381   Applicant：神栄株式会社