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J-GLOBAL ID：200903016853120501

構造物の内部欠陥検出装置

Inventor： 栗田 耕一 ,  村井 亮介 ,  岡井 隆
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000010662
Publication number (International publication number)：2001201474
Application date： Jan. 19, 2000
Publication date： Jul. 27, 2001
Summary：

【要約】【課題】本発明は、定量的な評価ができ、検査に要するコストを大幅に低減でき、さらに従来と比べて深い欠陥の検査ができることを課題とする。【解決手段】構造物に光を照射して構造物の内部欠陥を検出する装置において、赤外線を高架橋22に照射する赤外線光源21と、この赤外線光源21と電気的に接続する赤外線照射時間制御装置25と、前記赤外線照射時間制御装置25と電気的に接続され、前記赤外線光源21により照射された構造物を撮影する赤外線カメラ26と、前記赤外線カメラ26に電気的に接続され、カメラ26で撮影した画像を蓄積する画像蓄積装置27と、前記赤外線照射時間制御装置25、画像蓄積装置27に夫々電気的に接続され、前記画像蓄積装置27で蓄積した画像を解析する画像解析装置28とを具備することを特徴とする構造物の内部欠陥検出装置。

Claim (excerpt)：

構造物に赤外線を照射して構造物の内部欠陥を検出する装置において、赤外線を構造物に照射する赤外線光源と、この赤外線光源と電気的に接続する赤外線照射時間制御装置と、前記赤外線照射時間制御装置と電気的に接続され、前記赤外線光源により照射された構造物を撮影する撮影器と、前記撮影器に電気的に接続され、撮影器で撮影した画像を蓄積する画像蓄積装置と、前記赤外線走者時間制御装置、画像蓄積装置に夫々電気的に接続され、前記画像蓄積装置で蓄積した画像を解析する画像解析装置とを具備することを特徴とする構造物の内部欠陥検出装置。

F-Term (8)：

2G040AA06 ,  2G040AA07 ,  2G040BA16 ,  2G040BA25 ,  2G040CA03 ,  2G040DA06 ,  2G040EA06 ,  2G040HA02