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J-GLOBAL ID：200903016854563911

判別条件生成方法

Inventor： 萩原 賢一 ,  寺崎 健 ,  松井 照明
Applicant, Patent owner： 富士電機株式会社
Agent (1)： 森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992245767
Publication number (International publication number)：1994068066
Application date： Aug. 20, 1992
Publication date： Mar. 11, 1994
Summary：

【要約】【目的】バージョン空間法を現場で適用して判別条件を容易に生成、修正する。小形コンピュータの使用を可能にする。【構成】処理装置200により記憶装置100を初期化した後、事例データ300中の正例の属性値の組合せを記憶装置に設定して正例数を「1」とし、負例の属性値の組合せを記憶装置に設定する。属性値の組合せの各々について、各組合わせが負例として設定された属性値の組合せ中に存在すれば負例数を一つ積算して負例数を設定する。負例数が「0」である属性値の組合せのうち属性数が最少の組合せに対応する要否に「要」を設定し、負例数が「0」である属性値の組合せのうち上記処理により「要」と設定された属性値の組合せを包含する総ての属性値の組合せに対応する要否に「否」を設定することを繰り返す。これにより、正例に含まれ負例に含まれない属性値の組合せを判別条件として生成する。

Claim (excerpt)：

複数種類の属性についての各属性値と、これらの属性値に対する判別結果とからなる事例を複数有し、少なくとも一つの事例の判別結果が正である事例データと、同一の属性が重複しないように組み合わされる属性値の組合せと、これらの属性値の組合せに対応し、判別結果が正である事例(以下、正例という)そのものか、それとも、その正の事例の属性を組み合わせたものなのかを判別するための値としての正例数及び負である事例(以下、負例という)の数としての負例数と、前記属性値の組合せの要不要に関する要否とがそれぞれ設定される記憶装置と、事例データに基づき、記憶装置の初期化、正例数及び負例数の設定、並びに要否の設定を行う処理装置とを備え、処理装置により、記憶装置における属性値の組合せ及び要否を「空白」とし、かつ正例数及び負例数に「0」を設定して記憶装置を初期化した後、事例データ中の正例における複数の属性値についてすべての組合せを記憶装置に設定すると共に事例データ中の正例に対応する正例数に「1」を設定し、事例データ中の負例における複数の属性値の組合せを記憶装置に設定し、記憶装置における属性値の組合せの各々について、各組合せが負例として設定された属性値の組合せ中に存在すれば負例数を一つ積算することにより負例数を設定し、記憶装置における負例数が「0」である属性値の組合せのうち、属性数が最も少ない組合せに対応する要否に「要」を設定すると共に、記憶装置における負例数が「0」である属性値の組合せのうち、上記処理により要否が「要」と設定された属性値の組合せを包含するすべての属性値の組合せに対応する要否に「否」を設定することにより、正例に含まれ、かつ負例に含まれない属性値の組合せを正例及び負例の判別条件として生成することを特徴とする判別条件生成方法。

IPC (3)：

G06F 15/20 ,  G06F 9/44 330 ,  G06F 15/18