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J-GLOBAL ID：200903016866814200

眼位置測定装置

Inventor： 細井 良晋
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999043965
Publication number (International publication number)：2000241118
Application date： Feb. 22, 1999
Publication date： Sep. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】 適切な眼鏡調整ができるように、被検者の使用環境に応じた状態で被検者の眼の位置を正確に測定できる眼位置測定装置を提供する。【解決手段】 被検者眼を注視させるための注視目標を持ち該注視目標の呈示距離を光学的に変化させる注視目標呈示光学系と、被検者の両眼を含む前眼部を撮像するための撮像手段を持ち該撮像手段による撮影距離を光学的に変化させて前記注視目標と略同一位置から撮像する撮像光学系と、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて被検者の眼位置を測定する測定手段とを備える

Claim (excerpt)：

被検者眼を注視させるための注視目標を持ち該注視目標の呈示距離を光学的に変化させる注視目標呈示光学系と、被検者の両眼を含む前眼部を撮像するための撮像手段を持ち該撮像手段による撮影距離を光学的に変化させて前記注視目標と略同一位置から撮像する撮像光学系と、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて被検者の眼位置を測定する測定手段と、を備えることを特徴とする眼位置測定装置。

IPC (2)：

G01B 11/00 ,  A61B 3/11

FI (2)：

G01B 11/00 H ,  A61B 3/10 A

F-Term (19)：

2F065AA02 ,  2F065AA07 ,  2F065AA22 ,  2F065AA32 ,  2F065CC00 ,  2F065DD03 ,  2F065EE05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF61 ,  2F065FF65 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL07 ,  2F065LL12 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ35 ,  2F065SS13

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特許第2567642号
  
• 眼科装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-190688   Applicant：株式会社ニデック
• 手持ち型検眼装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-089322   Applicant：株式会社ニコン