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J-GLOBAL ID：200903016993131864

品質不良の原因解析方法

Inventor： 橋口 昇平 ,  赤木 俊夫
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 矢葺 知之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001311140
Publication number (International publication number)：2003114713
Application date： Oct. 09, 2001
Publication date： Apr. 18, 2003
Summary：

【要約】【課題】 製品の品質不良原因をプロセス変数に帰する方法において、多数のプロセス変数が存在し互いに相関をもつプロセス変数が含まれる場合でも、どのプロセス変数がプロセス異常や品質不良の原因であるかを直ちに示すこと。【解決手段】 プロセスデータを検索・収集し、主成分分析を利用して、残差変数と距離変数を計算する。残差変数が許容範囲を外れていたときは、残差変数への各プロセス変数の寄与度を計算・比較して、寄与度の大きいプロセス変数を品質不良の原因の候補として抽出する。距離変数が許容範囲を外れていたときは、距離変数への各スコア変数の寄与度を計算・比較して、寄与度の大きいスコア変数を品質不良の原因の候補として抽出する。さらにこのとき、抽出されたスコア変数への各プロセス変数の寄与度を計算・比較し、抽出されたスコア変数に寄与度の大きいプロセス変数を最終的な品質不良の原因の候補として抽出する。

Claim (excerpt)：

製品の品質に基づき製造プロセスを解析する方法であって、品質不良と指定した製品と同品種の製品に関する、プロセスデータを検索・収集する工程と、収集した同品種の製品のプロセスデータから主成分分析を利用して、プロセス変数の線形結合であるスコア変数を得る工程と、残差変数を計算し、前記残差変数が前記プロセスの正常な許容範囲内にあるかを判断する工程と、前記指定した製品が残差変数の許容範囲を外れていたとき、残差変数の値への各プロセス変数の寄与度を計算する工程と、各プロセス変数の寄与度を比較して、残差変数の値に主に寄与しているプロセス変数を品質不良の原因の候補として抽出する工程と、前記指定した製品が残差変数の許容範囲を外れていないとき、距離変数を計算し、前記距離変数が、前記プロセスの正常な許容範囲内にあるかを判断する工程と、前記指定した製品が距離変数の許容範囲を外れていたとき、距離変数の値への各スコア変数の寄与度を計算する工程と、各スコア変数の寄与度を比較して、距離変数の値に主に寄与しているスコア変数を品質不良の原因の候補として抽出する工程と、候補として抽出されたスコア変数への各プロセス変数の寄与度を計算する工程と、前記の抽出されたスコア変数に主に寄与しているプロセス変数を品質不良の原因の候補として抽出する工程と、からなることを特徴とする品質不良の原因解析方法。

IPC (6)：

G05B 23/02 ,  G06F 17/10 ,  G06F 17/15 ,  G06F 17/18 ,  G06F 17/60 108 ,  G06F 17/60 150

FI (6)：

G05B 23/02 P ,  G06F 17/10 Z ,  G06F 17/15 ,  G06F 17/18 Z ,  G06F 17/60 108 ,  G06F 17/60 150

F-Term (7)：

5B056BB00 ,  5B056BB71 ,  5B056HH00 ,  5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223FF01 ,  5H223FF06