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J-GLOBAL ID：200903017007626636

三次元形状測定方法

Inventor： 井上 潔
Applicant, Patent owner： 株式会社アイ・エヌ・アール研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992184283
Publication number (International publication number)：1993332736
Application date： Jun. 02, 1992
Publication date： Dec. 14, 1993
Summary：

【要約】【目的】 光反射による三次元形状測定において、被測定物面の傾斜等によって影響されることを少なくし、測定誤差をなくして精密測定ができるようにするものである。【構成】 三次元形状の被測定物6にレーザー発振器1の出力する光ビームを照射し、反射光を光位置検出器3で検出して三次元形状の測定を行なうものにおいて、前記被測定物の表面をダル加工とか微細粉末の塗着により凹凸する粗面化の処理を行なう。

Claim (excerpt)：

三次元形状の被測定物に光ビームを照射したときの反射光を検出して形状測定する方法において、前記被測定物の表面を凹凸する粗面化の処理をしたことを特徴とする三次元形状測定方法。