Pat
J-GLOBAL ID：200903017041146244

測位装置および測位システム

Inventor：
井澗 健二

About 井澗 健二


Applicant, Patent owner：
古野電気株式会社

About 古野電気株式会社


Agent (1)： 小森 久夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001398011
Publication number (International publication number)：2003194915
Application date： Dec. 27, 2001
Publication date： Jul. 09, 2003
Summary：
【要約】【課題】 測位装置の電源投入後の測位開始時に整数バイアスの決定を速やかに行えるようにし、キャリア位相の情報を用いた測位を間欠動作により行えるようにした測位装置を構成する。【解決手段】 間欠動作により測位を行う際に、測位中に求めていた測位局の位置を非測位中に保持し、測位開始時に、保持していた記憶測位位置から計算上の位相差を算出し、観測位相差の小数部が±0.5サイクルの範囲で観測位相差と一致するように計算位相差を修正し、修正後の計算位相差を観測位相差の整数バイアスとして決定する。
Claim (excerpt)：
基準局となる測位装置と測位局となる測位装置とで複数の測位用送信機からの信号をそれぞれ受信して、前記複数の測位用送信機から基準局および受信局の受信点までのキャリア位相の差を求め、このキャリア位相の差を基に、基準局に対する測位局の位置を測位する測位装置において、測位中に求めていた前記測位局の位置を、非測位中に記憶測位位置として保持する手段と、測位開始時に、前記記憶測位位置と前記測位用送信機の位置とから求まる計算上の位相差を計算位相差として算出し、前記測位局で観測した測位用送信機からの信号のキャリア位相差の小数部を観測位相差として求め、前記計算位相差の小数部が±0.5サイクルの範囲で前記観測位相差と一致するように前記計算位相差を修正し、該修正後の計算位相差を前記観測位相差の整数バイアスとして決定する手段と、を備えてなる測位装置。
IPC (2)：
G01S 5/14 ,  G01C 15/00 102
FI (2)：
G01S 5/14 ,  G01C 15/00 102 C
F-Term (5)：
5J062AA13 ,  5J062BB08 ,  5J062CC07 ,  5J062DD05 ,  5J062EE04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM