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J-GLOBAL ID:200903017087269529

汚液濃度の測定システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 櫻井 俊彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992059281
Publication number (International publication number):1993223791
Application date: Feb. 13, 1992
Publication date: Aug. 31, 1993
Summary:
【要約】【目的】沈殿槽内に蓄えた汚液中の浮遊混濁物を沈殿させながらこの沈殿槽内を回転又は旋回するかき寄せ器で中央部にかき寄せることにより上澄み部分と分離する汚液処理システム内に設置される汚液濃度の測定システムにおいて、濃度センサとかき寄せ器との衝突回避や濃度センサの深度調整のためのケーブル巻取り機構を不要とすることによりシステムの簡易化・低廉化・高信頼化を実現する。【構成】かき寄せ器(4)の液中部分に深度方向に所望の間隔を保ちながら設置される複数の濃度センサ群(11〜16)と、かき寄せ器(4)の液状部分に設置され濃度センサ群(11〜16)の出力データを有線信号路を介して収集し、そのままあるいは測定値に変換して無線信号として送出する子局装置(20)と、かき寄せ器(4)の外部の固定箇所に設置されると共に子局装置(20)からの無線信号を受信する親局装置(40)とを備える。
Claim (excerpt):
沈殿槽内に蓄えた汚液中の浮遊混濁物を沈殿させながらこの沈殿槽内を回転又は旋回するかき寄せ器で中央部にかき寄せることにより上澄み部分と分離する汚液処理システム内に設置される汚液濃度の測定システムであって、前記かき寄せ器の液中部分に深度方向に所望の間隔を保ちながら設置される複数の濃度センサと、前記かき寄せ器の液上部分に設置され前記各濃度センサの出力データを有線信号路を介して収集し、そのままあるいは測定値に変換して無線信号として送出する子局装置と、前記かき寄せ器の外部の固定箇所に設置されると共に前記子局装置からの無線信号を受信する親局装置とを備えたことを特徴とする汚液濃度の測定システム。
IPC (4):
G01N 29/20 ,  B01D 21/30 ,  G01N 21/59 ,  G01N 29/02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開昭58-115107
  • 特開昭61-207605
  • 特開昭58-115106

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