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J-GLOBAL ID：200903017112419000

ナノ粒子測定方法および装置

Inventor：
十時 慎一郎

About 十時 慎一郎


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004266768
Publication number (International publication number)：2006084207
Application date： Sep. 14, 2004
Publication date： Mar. 30, 2006
Summary：
【課題】 ナノ粒子の粒子径等を、従来の動的散乱法に比してより高い感度で良好なS/Nのもとに測定することのできる方法および装置を提供する。【解決手段】 媒体中に移動可能に分散させた粒子P群に対し、電極13a等により空間周期を有する電界を印加することで、粒子P群により空間周期的な濃度変化を持たせて擬似的な回折格子を生成させ、その状態で粒子P群に対してレーザ光を照射して得られる回折光を検出し、電界の印加を停止した時点からの回折光の時間変化から、粒子群の拡散係数および粒子径を算出する。多数の粒子Pによる擬似的回折格子による回折光を検出するので、動的散乱法のように個々の粒子による散乱光の揺らぎを検出する場合に比して、信号強度が強く、感度およびS/Nの向上を可能とする。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
媒体中に移動可能に分散させた粒子群に対し、空間周期を有する電界を印加することにより当該粒子群に空間周期的な濃度変化を持たせて疑似的な回折格子を生成させ、その状態で粒子群に対してレーザ光を照射して得られる回折光を検出し、上記電界の印加を停止した時点からの回折光の時間変化から、粒子群の拡散係数および粒子径を算出することを特徴とするナノ粒子測定方法。
IPC (2)：
G01N 15/02 ,  G01B 11/08
FI (3)：
G01N15/02 A ,  G01N15/02 D ,  G01B11/08 G
F-Term (12)：
2F065AA26 ,  2F065CC00 ,  2F065DD04 ,  2F065FF48 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL30 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ26
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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