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J-GLOBAL ID：200903017175628385

孔位置の計測方法

Inventor： 山岡 直次 ,  小田 幸治
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 北村 欣一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993067978
Publication number (International publication number)：1994281411
Application date： Mar. 26, 1993
Publication date： Oct. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 カメラで撮像した円形孔の像の孔縁にノイズによる凹凸等が現われても、円形孔の中心位置を正確に計測できるようにする。【構成】 円形孔の像の孔縁に合致する周方向複数箇所の?@〜?Gの孔縁点をピックアップしてその座標を検出する。円形孔の画像重心Gを中心とする所定の環状エリアを設定し、エリア外に位置する孔縁点(?Dの点)は異常な像の部分に位置する点であるとして削除する。残りの孔縁点の座標に基いて円形孔の像を表わす回帰楕円Sを求める。、この回帰楕円Sは円形孔の正常な像にマッチし、かくて回帰楕円の中心座標から円形孔の中心位置を正確に求められる。

Claim (excerpt)：

ワークに形成した円形孔を撮像し、撮像手段の画面上の円形孔の像の孔縁に合致する周方向複数箇所の孔縁点の座標に基いて円形孔の中心位置を計測する方法において、前記各孔縁点が円形孔の画像重心を基準にして画面上に設定される所定の環状エリア内に存するか否かを判別し、環状エリア内に存する孔縁点の座標から画面上の円形孔の像を表わす回帰楕円を算定し、この回帰楕円の中心座標から円形孔の中心位置を求めることを特徴とする孔位置の計測方法。

IPC (3)：

G01B 11/00 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 360

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭62-285004
  
• 特開昭64-023108
  

Cited by examiner (1)

• 特開昭62-285004