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J-GLOBAL ID：200903017214657223

焦点検出装置およびその較正方法

Inventor： 塚田 信一
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 古谷 史旺 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996179222
Publication number (International publication number)：1998020184
Application date： Jul. 09, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、カメラその他の光学機器に搭載される焦点検出装置およびその較正方法に関し、撮影光学系の個体差に起因する検出バラツキを焦点検出データから確実かつ簡便に除去することを目的とする。【解決手段】撮影画面上に設定された複数の焦点検出エリアについて、焦点検出データを検出する焦点検出手段1と、外部からの操作入力に応じて、焦点検出手段1から焦点検出データを取り込み、基準とする焦点検出データとその他の焦点検出データとの差をオフセット値として記憶するオフセット記憶手段2と、オフセット記憶手段2に記憶されたオフセット値を用いて、焦点検出手段1により検出される焦点検出データを較正する較正手段3とを備えて構成する。

Claim (excerpt)：

撮影画面上に設定された複数の焦点検出エリアについて、焦点検出データを検出する焦点検出手段と、外部からの操作入力に応じて、前記焦点検出手段から焦点検出データを取り込み、基準とする焦点検出データとその他の焦点検出データとの差をオフセット値として記憶するオフセット記憶手段と、前記オフセット記憶手段に記憶されたオフセット値を用いて、前記焦点検出手段により検出される焦点検出データを較正する較正手段と、を備えたことを特徴とする焦点検出装置。

IPC (2)：

G02B 7/28 ,  G03B 13/36

FI (2)：

G02B 7/11 N ,  G03B 3/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開平1-221710
  
• 特開平4-256917
  
• 測距装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-329217   Applicant：キヤノン株式会社

Cited by examiner (3)

• 特開平4-256917
  
• 特開平1-221710
  
• 測距装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-329217   Applicant：キヤノン株式会社