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J-GLOBAL ID:200903017302281225
生体磁場測定方法およびその装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
津川 友士
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992122296
Publication number (International publication number):1993317281
Application date: May. 14, 1992
Publication date: Dec. 03, 1993
Summary:
【要約】【目的】 生体表面に近い複数箇所での磁場測定値に基づいて行なう磁場源解析精度を、測定点を増加させることなく向上させる。【構成】 N個の磁場センサMSによる磁場測定値に基づいて補間処理部IPによる補間を行なって測定点間の任意の点における疑似測定値を得、実際の測定値および疑似測定値を教師パターンとして補正部11a,12a,・・・,1maによるビオ・サバール演算ユニット11,12,・・・,1mの未知数の補正を行ない、補正された未知数を磁場源解析結果として情報収集ユニット4により取出す。
Claim (excerpt):
既知の入力パターンを供給して、磁場源情報を未知数とする複数のビオ・サバールの法則の演算を行ない、各演算結果を累積加算して磁場演算値を得、人体表面の近傍の複数箇所において得られた磁場計測値に基づいて補間処理を施すことにより計測数よりも多い計測値に基づく教師パターンを得、上記磁場演算値と教師パターンとの差を算出し、算出した差に基づいて各演算式に含まれる未知数としての磁場源情報を補正し、差が十分に小さくなるまで上記一連の処理を反復してから各演算式に含まれる未知数としての磁場源情報を生体磁場測定結果として出力することを特徴とする生体磁場測定方法。
IPC (2):
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開平4-116481
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特開平3-277345
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特開平3-001839
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特開昭59-131330
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特開平4-253260
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生体磁気計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-201028
Applicant:富士通株式会社
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