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J-GLOBAL ID：200903017524221581

プロセス用分子量分布測定装置

Inventor： 片山 幸昭
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992132033
Publication number (International publication number)：1993302915
Application date： Apr. 24, 1992
Publication date： Nov. 16, 1993
Summary：

【要約】【目的】 オンラインで分子量分布を測定する。【構成】 保温された試料導入部の希釈弁10からの排出液と、HPLCのインジェクタ22からの排出液を受け取り、溶剤を再生して希釈弁10への希釈液として、及びインジェクタ22への移動相として供給する溶剤供給装置20は防爆形で連続供給装置となっている。溶剤供給装置20と溶剤タンク40の溶剤を希釈弁10へ供給するポンプ18及びインジェクタ22へ供給するポンプ28との間には防爆形の脱気装置42が設けられている。

Claim (excerpt)：

分析部としてのサイズ排除クロマトグラフィ装置と、プロセス側から試料を採取して希釈し分析部へ導入する保温された試料導入部と、試料導入部との間及び分析部との間で溶剤の循環流路を形成することができ、試料導入部への希釈液及び分析部への移動相として溶剤を供給する防爆形の溶剤連続供給装置と、溶剤連続供給装置と試料導入部及び分析部との間に設けられた防爆形の脱気装置とを備えたことを特徴とするプロセス用分子量分布測定装置。