Pat
J-GLOBAL ID:200903017549447940
光フアイバ検知器集合体
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中村 稔 (外9名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000611036
Publication number (International publication number):2002541575
Application date: Apr. 06, 2000
Publication date: Dec. 03, 2002
Summary:
【要約】【課題】本発明は、多数の検知器要素の測定を可能にし、必要とされる光フアイバ、部品の数、コストを減少し、時分割多重化のみに基づいた等しい大きさの配列と比較した時、遠隔測定の複雑さを相当に減少した、光フアイバ検出器集合体を提供する。【解決手段】光フアイバ検出器集合体は、複数の異なる周波数の実質的に単色光信号の源(1、2、3、4)、この源の出力に接続されて単色光信号の出力パルスの列を発生するための変調器(10)、この変調器の出力に結合された複数の検知器のサブ集合体であって、各サブ集合体は光学ドロップ・マルチプレクサ(ODM)(13)、複数の検知器要素を含んだ検知器配列(14)、光学追加マルチプレクサ(OAM)(15)を含むもの、このサブ集合体の出力に結合された入力を有する波長デマルチプレクサ(WDM)(18)、複数の検出器(23、24、25、26)であって、各検出器がWDMのそれぞれの出力を受取るため接続された入力を有し、その出力において変調された単色光信号のそれぞれの周波数に対応する信号を与える検出器、各入力がそれぞれの検出器からの出力信号を受取るように接続された複数の入力を有する測定システム(27)、を含む。
Claim (excerpt):
光フアイバ検知器集合体において、a)複数の異なる周波数の実質的に単色光信号の源と、b)前記源の出力に接続されて単色光信号の出力パルスの列を発生するための変調器と、c)前記変調器の出力に結合された複数の検知器のサブ集合体であって、各サブ集合体は光学ドロップ・マルチプレクサ(ODM)と、複数の検知器要素を含んだ検知器配列と、光学追加マルチプレクサ(OAM)とを含み、前記ODMは、単一周波数の単色光信号パルスの列がそれぞれの各検知器配列の入力に印加されるように構成されていて、そして、光遅延手段が、各信号パルスが検知器配列内のそれぞれの検知器要素に接続する前に連続的に遅延されて、前記配列内の各検知器要素がそれぞれの検知器要素により変調された各信号を持つ異なる時間遅延された信号をその出力に発生するように設けられていて、そしてOAMが、再結合され、変調され、時間的に遅延された検知器信号出力パルスをサブ集合体出力において与えるように構成されている、複数の検知器のサブ集合体と、d)前記サブ集合体の出力に結合された入力と複数の出力とを有する波長デマルチプレクサ(WDM)であって、このWDMは異なる周波数の単色光信号の各々がWDMのそれぞれの出力に送信されるように信号を分離するものであるWDMと、e)前記WDMのそれぞれの出力を受取るために接続された入力を各々が有する複数の検出器であって、その出力に変調された単色光信号のそれぞれの周波数に対応する信号をその出力に与える検出器と、f)各入力がそれぞれの検出器からの出力信号を受取るように接続された複数の入力を有する測定システムであって、この測定システム及び関連する検知器配列は各検出器要素からのデータが分解できるように構成されている、測定システムと、 を含む光フアイバ検知器集合体。
IPC (12):
G08C 23/04
, G01B 11/16
, G01D 21/00
, G01K 11/12
, G01L 1/24
, G01L 9/00
, G01P 15/03
, G01R 15/22
, G01V 1/18
, G01V 8/16
, G08C 15/00
, G08C 15/02
FI (12):
G01B 11/16 Z
, G01D 21/00 M
, G01K 11/12 F
, G01L 1/24 A
, G01L 9/00 B
, G01P 15/03 C
, G01V 1/18
, G08C 15/00 K
, G08C 15/02
, G08C 23/00 A
, G01V 9/04 F
, G01R 15/07 Z
F-Term (54):
2F055AA40
, 2F055BB20
, 2F055CC02
, 2F055DD20
, 2F055EE31
, 2F055FF34
, 2F055GG31
, 2F056VF02
, 2F056VF11
, 2F056VF16
, 2F065AA65
, 2F065FF41
, 2F065FF51
, 2F065GG04
, 2F065GG23
, 2F065JJ05
, 2F065JJ18
, 2F065LL03
, 2F065LL12
, 2F065LL21
, 2F065LL22
, 2F065LL42
, 2F065LL67
, 2F065UU07
, 2F073AA01
, 2F073AA21
, 2F073AB01
, 2F073BB06
, 2F073BB11
, 2F073BC04
, 2F073CC02
, 2F073CD11
, 2F073CD21
, 2F073DD01
, 2F073FF16
, 2F073FH07
, 2F073FH12
, 2F073FH15
, 2F073FH17
, 2F073FH20
, 2F073GG01
, 2F073GG04
, 2F076BA01
, 2F076BB11
, 2F076BD01
, 2F076BD06
, 2F076BD07
, 2F076BD11
, 2F076BD17
, 2F076BE02
, 2F076BE17
, 2G025AB13
, 2G025AC06
, 2G025AC08
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
-
波長分割多重光ファイバセンサアレイシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-247290
Applicant:沖電気工業株式会社
-
海底観測システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-014729
Applicant:日本電気株式会社
-
多点形センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-237971
Applicant:安藤電気株式会社
-
光ファイバを用いた圧力測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-004927
Applicant:沖電気工業株式会社
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