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J-GLOBAL ID：200903017553400347

スキャンフリップフロップ

Inventor： 木戸 直茂 ,  星田 匠
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 松村 博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997254730
Publication number (International publication number)：1999094912
Application date： Sep. 19, 1997
Publication date： Apr. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 スキャン設計手法を実施するLSIに関し、クロックスキューによるスキャン動作不良を防ぐ。【解決手段】 データ入力端子9とスキャンイネーブル入力端子6の入力データの論理積をとるD入力ゲートセル2と、スキャンデータ入力端子8の入力データとスキャンイネーブル入力端子6の入力を反転したデータの論理積をとるDT入力ゲートセル3と、D入力ゲートセル2とDT入力ゲートセル3の出力データの論理和をD入力端子7に出力するOR演算セル4とからなる選択回路に、さらに、DT入力ゲートセル3のゲート出力とOR演算セル4のゲート入力との間に遅延素子5を追加することで、スキャン動作時にはスキャンチェーン上に遅延素子を追加せずにクロックスキュー対策を実施することが可能になり、スキュー動作時以外は、遅延素子5は動作することがないため消費電力削減を図ることができる。

Claim (excerpt)：

通常データとテスト用のスキャンデータとを入力していずれか一方を選択して出力する選択回路と、この選択回路からのデータを入力するフリップフロップ回路とを有するスキャンフリップフロップであって、前記選択回路にスキャンデータのみを遅延させて出力させる遅延素子を内蔵したことを特徴とするスキャンフリップフロップ。

IPC (2)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360

FI (2)：

G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 360 P