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J-GLOBAL ID：200903017710807367

分散システムの試験方法および装置

Inventor： 今川 仁 ,  榊原 宗
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992015868
Publication number (International publication number)：1993210646
Application date： Jan. 31, 1992
Publication date： Aug. 20, 1993
Summary：

【要約】【目的】 システムの中のモジュールの試験またはモジュールの中の機能ブロックの試験といった試験を、モジュール内または機能ブロック内で試験が完結するようにして、上位制御装置からの並行試験を可能とする分散システムの試験方法およびそのための装置を提供すること。【構成】 複数の下位機能ブロック装置,上位機能ブロック装置,これらを接続するインタフェース装置,前記複数の下位機能ブロック装置相互間を接続する複数の接続リンク類から構成されるモジュールにおいて、該モジュールの全体を試験するコマンドを受信した場合に、上位機能ブロック装置が、当該上位機能ブロック装置自身の正常性の試験、前記インタフェース装置および前記複数の下位機能ブロック装置,上位機能ブロック装置のインタフェース部の正常性の試験を行った後に、前記複数の下位機能ブロック装置の試験および該複数の下位機能ブロック装置間の試験をそれぞれ並列に行うことを特徴とする分散システムの試験方法。

Claim (excerpt)：

複数の下位機能ブロック装置,上位機能ブロック装置,これらを接続するインタフェース装置,前記複数の下位機能ブロック装置相互間を接続する複数の接続リンク類から構成されるモジュールにおいて、該モジュールの全体を試験するコマンドを受信した場合に、上位機能ブロック装置が、当該上位機能ブロック装置自身の正常性の試験、前記インタフェース装置および前記複数の下位機能ブロック装置,上位機能ブロック装置のインタフェース部の正常性の試験を行った後に、前記複数の下位機能ブロック装置の試験および該複数の下位機能ブロック装置間の試験をそれぞれ並列に行うことを特徴とする分散システムの試験方法。

IPC (5)：

G06F 15/16 450 ,  G06F 11/16 310 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 13/00 301 ,  G06F 13/00 353