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J-GLOBAL ID：200903017734239343

比誘電率の測定方法および装置ならびに埋設物の探査方法および装置

Inventor： 中山 昇 ,  北村 みちる
Applicant, Patent owner： 大阪瓦斯株式会社
Agent (1)： 西教 圭一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992289007
Publication number (International publication number)：1994138250
Application date： Oct. 27, 1992
Publication date： May. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 地中埋設管が埋設されている土壌の比誘電率を正確に、かつ容易に測定し、その地中埋設管の頂部の探査を正確に、かつ容易に行うことができるようにすること。【構成】 地表面から電磁波を放射し、地中埋設管による反射波を受信し、地中埋設管を横切るように移動しつつ放射した電磁波と、反射波との時間差との基づいて土壌断面の原画像を作成し、土壌の比誘電率を順番に変更しつつ、各比誘電率毎に、合成開口法による点物標Paの深さ方向の位置を深さ方向にずらしながら各点物標Paの信号レベルQを演算して求め、こうして得られた各比誘電率毎の信号レベルQの群と、基準波形との相互相関を求め、その相互相関が最大である比誘電率を、実際の比誘電率であるものとして求め、この実際の比誘電率に基づいて、隠蔽場所の表面から埋設物までの距離を正確に演算して求める。

Claim (excerpt)：

埋設物が埋設されている隠蔽場所の表面に沿って移動しつつ、隠蔽場所に、電磁波を放射し、埋設物による反射波を受信し、放射した電磁波と反射波との時間差に基づいて隠蔽場所の断面の原画像を作成し、隠蔽場所の表面から埋設物までの比誘電率を順番に変更しつつ設定し、設定した各比誘電率毎に、原画像を用いて、合成開口法による像の収斂すべき予め定める点物標Paの深さ方向の位置をずらしながら各点物標Paの信号レベルQを演算して求め、各比誘電率毎に、深さ方向の合成開口の信号レベルQの群と、予め定める基準波形との一致の程度を求め、一致の程度が最大である比誘電率を、隠蔽場所の表面から埋設物までの平均比誘電率であると判定する比誘電率の測定方法。

IPC (3)：

G01V 3/12 ,  G01S 13/88 ,  G01S 13/90